آب­های زیرسطحی، حفرات و ساختارهای مجزای دفن‌شده در ژرفاهای کم، به‌دلیل تفاوت آشکار در ویژگی‌های الکتریکی و الکترومغناطیسی با محیط دربرگیرنده خود، به‎خوبی توسط روش‎های مقاومت ویژه و GPR قابل آشکارسازی هستند. در این پژوهش، با در نظر گرفتن 3 نیمرخ با شرایط متفاوت بر روی این گونه اهداف، به بررسی پاسخ آنها پرداخته شده است. افزون بر این که استفاده از این روش­ها در کنار هم، بررسی قابلیت­ها و محدودیت­های روش­های یادشده را ممکن ساخته است. نتایج حاصل از این پژوهش نشان می­دهد که روش GPR افزون بر سرعت و آسانی در برداشت داده­ها، در آشکارسازی مرزهایی که ویژگی­های الکترومغناطیسی در میان دو محیط­ به‎صورت ناگهانی تغییر می­کند، بسیار موفق است. برداشت­های مقاومت ویژه در این پژوهش که به‌روش نیمرخ­زنی با استفاده از آرایش ونر صورت گرفته است، نشان از مقاومت ویژه پایین محیط­های بررسی‎شده دارد. این امر، سبب ژرفای نفوذ کم روش GPR شده و بررسی اهداف دفن‌شده در ژرفاهای بیش از 2 متر به‎وسیله این روش را غیر ممکن کرده است. بر خلاف روش GPR، روش مقاومت ویژه در آشکارسازی اهداف چندگانه با تفاوت شدید مقاومت ویژه در کنار هم، موفقیت چندانی حاصل نکرده است. این مطلب ناشی از قدرت جدایش پایین‌تر روش مقاومت ویژه در مقایسه با روش GPR است. در این پژوهش، با انتخاب دو الگوریتم­ متفاوت پردازش و اعمال آنها بر روی یک سری از داده­های اولیه GPR، اطلاعات قابل توجهی به‌دست آمده است. اطلاعات به‌دست آمده از مقاومت ویژه ساختارهای زیرسطحی با استفاده از برداشت‌های مقاومت ویژه، انتخاب صحیح الگوریتم­های پردازش یادشده را ممکن ساخته است. این پژوهش به‌خوبی نشان می­دهد که مناطق با رسانندگی الکتریکی بالا در مقاطع مقاومت ویژه، منطبق بر مناطق با اتلاف (تضعیف) بالای امواج در مقاطع GPR هستند. از این ویژگی می‌توان به‌خوبی در تفسیر داده­های GPR بهره برد و روش مقاومت ویژه را مکملی مناسب برای روش GPR عنوان کرد.